https://scholar.dgist.ac.kr/handle/20.500.11750/9986 2026-04-22T09:45:33Z 2026-04-22T09:45:33Z 이종찬 정세주 김재용 고동빈 https://scholar.dgist.ac.kr/handle/20.500.11750/59138 2025-10-31T17:10:22Z

Title: STED 현미경 이미지 처리 방법 및 STED 현미경 시스템 Author(s): 이종찬; 정세주; 김재용; 고동빈 Abstract: 본 발명은 STED 현미경 이미지 처리 방법 및 STED 현미경 시스템을 제공하며, 측정 대상에 여기 레이저 빔 및 제1 STED 레이저 빔을 조사하여 얻은 제1 메인 이미지와, 상기 측정 대상에 상기 제1 STED 레이저 빔만을 조사하여 얻은 제1 보조 이미지를 이용하여 제1 STED 이미지를 획득하는 단계, 상기 측정 대상에 상기 여기 레이저 빔 및 상기 제1 STED 레이저 빔과 세기가 다른 제2 STED 레이저 빔을 조사하여 얻은 제2 메인 이미지와, 상기 측정 대상에 제2 STED 레이저 빔만을 조사하여 얻은 제2 보조 이미지를 이용하여 제2 STED 이미지를 획득하는 단계 및 상기 제1 STED 이미지 및 상기 제2 STED 이미지를 이용하여 배경잡음을 제거한 최종 이미지를 획득하는 단계를 포함할 수 있다.

정세주 김재용 고동빈 이종찬 https://scholar.dgist.ac.kr/handle/20.500.11750/58737 2025-07-28T07:05:43Z

Title: STED MICROSCOPE IMAGE PROCESSING METHOD AND STED MICROSCOPE SYSTEM Author(s): 정세주; 김재용; 고동빈; 이종찬 Abstract: The present invention provides a STED microscope image processing method and a STED microscope system, the method comprising the steps of: obtaining a first STED image by using a first main image, which is obtained by emitting an excitation laser beam and a first STED laser beam at an object being measured, and a first auxiliary image, which is obtained by emitting only the first STED laser beam at the object being measured; obtaining a second STED image by using a second main image, which is obtained by emitting, at the object being measured, the excitation laser beam and a second STED laser beam of an intensity different from that of the first STED laser beam, and a second auxiliary image, which is obtained by emitting only the second STED laser beam at the object being measured; and using the first STED image and the second STED image so as to obtain a final image from which background noise is removed.