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dc.contributor.author 이상철 -
dc.date.accessioned 2023-11-01T02:10:20Z -
dc.date.available 2023-11-01T02:10:20Z -
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/20.500.11750/46566 -
dc.description.abstract 전자 장치가 개시된다. 본 전자 장치는 복수의 공정 변수 및 복수의 공정 변수 각각에 대한 변수 값을 포함하는 공정 변수 데이터, 공정 변수 데이터에 따라 양품 또는 불량품을 구별한 품질 데이터, 복수의 공정 변수에 기초하여 품질을 분류하며 공정 변수 데이터 및 품질 데이터로 학습된 서로 다른 복수의 분류 모델 및 복수의 공정 변수 중 하나의 공정 변수 값을 나머지 공정 변수를 이용하여 산출하는 회귀 모델이 저장된 메모리 및 복수의 분류 모델에서 사용하는 공정 변수 별로 변수 값의 변화에 따라 품질에 영향을 미치는 정도인 변수 중요도를 산출하고, 산출된 변수 중요도에 기초하여 복수의 공정 변수 중 복수의 주요 공정 변수를 선별하고, 공정 변수 데이터 중 선별된 복수의 주요 공정 변수에 대응되는 데이터를 이용하여, 복수의 주요 공정 변수 별 회귀 모델을 학습시키고, 신규 공정 변수 값이 입력되면, 신규 공정 변수 값 및 복수의 주요 공정 변수 별 회귀 모델을 이용하여, 복수의 주요 공정 변수 각각에 대한 최적 값을 산출하는 프로세서를 포함한다. -
dc.title 사출 공정 변수의 최적화를 위한 장치 및 방법 -
dc.title.alternative Apparatus and method for optimization of injection process parameter -
dc.type Patent -
dc.publisher.country KO -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2021-0153453 -
dc.date.application 2021-11-09 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-2585970 -
dc.date.registration 2023-09-27 -
dc.contributor.assignee 재단법인대구경북과학기술원 -
dc.type.iprs 특허 -
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Division of Nanotechnology 3. Patents

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