Department of Electrical Engineering and Computer Science
Information and Communication Engineering Research Center
3. Patents
Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 제민규 | - |
| dc.contributor.author | 최지웅 | - |
| dc.contributor.author | 김경수 | - |
| dc.contributor.author | 문제일 | - |
| dc.contributor.author | 장재은 | - |
| dc.date.accessioned | 2018-07-11T12:16:48Z | - |
| dc.date.available | 2018-07-11T12:16:48Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.11750/7961 | - |
| dc.description.abstract | 오브젝트에 대한 가소성 측정 장치 및 방법이 개시된다. 오브젝트에 대한 가소성 측정 장치는 오브젝트와 관련된 전극 신호로부터 스파이크(spike) 신호를 검출하고, 상기 검출된 스파이크 신호를 타임 슬롯별로 구분하여 스택(stack)부에 저장하는 검출부와, 상기 스택부로부터 타임 슬롯별 스파이크 신호를 획득하여, 스파이크 신호 매트릭스(matrix)를 구성하고, 상기 스파이크 신호 매트릭스를 분석한 결과에 기초하여, 상기 오브젝트에 대한 가소성을 판단하는 프로세서를 포함할 수 있다. | - |
| dc.title | 오브젝트에 대한 가소성 측정 장치 및 방법 | - |
| dc.title.alternative | APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PLASTICITY OF OBJECT | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2015-0173866 | - |
| dc.date.application | 2015-12-08 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1777023 | - |
| dc.date.registration | 2017-09-04 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.description.claim | 오브젝트와 관련된 전극 신호로부터 스파이크(spike) 신호를 검출하고, 상기 검출된 스파이크 신호를 타임 슬롯별로 구분하여 스택(stack)부에 저장하는 검출부; 및상기 스택부로부터 타임 슬롯별 스파이크 신호를 획득하여, 스파이크 신호 매트릭스(matrix)를 구성하고, 상기 스파이크 신호 매트릭스를 분석한 결과에 기초하여, 상기 오브젝트에 대한 가소성을 판단하는 프로세서를 포함하고,상기 프로세서는,상기 스파이크 신호 매트릭스 내 스파이크 신호에 대한 특징을 분석하고, 상기 분석된 특징에 기초하여 상기 스파이크 신호 매트릭스 내 스파이크 신호를 그룹핑한 후, 상기 그룹핑된 스파이크 신호를 해당 타임 슬롯에 기초하여 기간별로 분리하며, 상기 기간별로 분리된 스파이크 신호에 대한 변화를 분석한 결과에 따라, 시간 흐름에 따른 상기 오브젝트에 대한 가소성을 판단하는오브젝트에 대한 가소성 측정 장치. | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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