Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박광민 | ko |
| dc.contributor.author | 금대현 | ko |
| dc.contributor.author | 이성훈 | ko |
| dc.date.accessioned | 2018-07-11T12:18:34Z | - |
| dc.date.available | 2018-07-11T12:18:34Z | - |
| dc.date.issued | 2009-11-30 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.11750/8007 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명에 따르는 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 자동화 장치는, 임베디드 소프트웨어의 설계정보를 제공받아, 테스트 항목에 대한 정보를 추출하여, 테스터 및 타겟 시스템을 생성하고, 상기 임베디드 소프트웨어의 설계정보에 따라 수행경로별로 최악 응답 시간을 예측하고, 그 최악 응답 시간에 따른 정보를 상기 타겟 시스템으로 제공하는 설계정보 추출 및 테스트 시스템 생성부; 상기 임베디드 소프트웨어 설계정보에 따른 테스트 항목에 대한 테스트 데이터를 생성하여 상기 타겟 시스템으로 전송함과 아울러 상기 타겟 시스템으로부터 테스트 수행결과를 수신받는 테스터; 상기 테스터로부터 상기 테스트 데이터를 수신받아 SUT(SYSTEM UNDER TEST)를 수행하고, 상기 SUT 수행 결과와 상기 SUT 수행시의 최악 응답 시간을 검출하여 상기 테스트 수행결과로서 상기 테스터로 전송하는 타겟 시스템;으로 구성됨을 특징으로 한다. | - |
| dc.title | 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 방법 및 그 장치 | - |
| dc.title.alternative | METHOD AND APPARATUS OF TESTING WORST CASE RESPONSE TIME FOR EMBEDDED SOFTWARE | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.rims | PAT | - |
| dc.contributor.nonIdAuthor | 박광민 | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2009-0117363 | - |
| dc.date.application | 2009-11-30 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1019167 | - |
| dc.date.registration | 2011-02-24 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.description.claim | 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치에 있어서,임베디드 소프트웨어의 설계정보를 제공받아, 테스트 항목에 대한 정보를 추출하여,테스터 및 타겟 시스템을 생성하고, 상기 임베디드 소프트웨어의 설계정보에 따라 수행경로별로 최악 응답 시간을 예측하고, 그 최악 응답 시간에 따른 정보를 상기 타겟 시스템으로 제공하는 설계정보 추출 및 테스트 시스템 생성부;상기 임베디드 소프트웨어 설계정보에 따른 테스트 항목에 대한 테스트 데이터를 생성하여 상기 타겟 시스템으로 전송함과 아울러 상기 타겟 시스템으로부터 테스트 수행결과를 수신받는 테스터;상기 테스터로부터 상기 테스트 데이터를 수신받아 SUT(SYSTEM UNDER TEST)를 수행하고, 상기 SUT 수행 결과와 상기 SUT 수행시의 최악 응답 시간을 검출하여 상기 테스트 수행결과로서 상기 테스터로 전송하는 타겟 시스템;으로 구성됨을 특징으로 하는 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치. | - |
| dc.description.claim | 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치에 있어서,임베디드 소프트웨어의 설계정보를 제공받아, 테스트 항목에 대한 정보를 추출하여,테스터 및 타겟 시스템을 생성하고, 상기 임베디드 소프트웨어의 설계정보에 따라 수행경로별로 최악 응답 시간을 예측하고, 그 최악 응답 시간에 따른 정보를 상기 타겟 시스템으로 제공하는 설계정보 추출 및 테스트 시스템 생성부;상기 임베디드 소프트웨어 설계정보에 따른 테스트 항목에 대한 테스트 데이터를 생성하여 상기 타겟 시스템으로 전송함과 아울러 상기 타겟 시스템으로부터 테스트 수행결과를 수신받는 테스터;상기 테스터로부터 상기 테스트 데이터를 수신받아 SUT(SYSTEM UNDER TEST)를 수행하고, 상기 SUT 수행 결과와 상기 SUT 수행시의 최악 응답 시간을 검출하여 상기 테스트 수행결과로서 상기 테스터로 전송하는 타겟 시스템;으로 구성됨을 특징으로 하는 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치. | - |
| dc.description.claim | 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치에 있어서,임베디드 소프트웨어의 설계정보를 제공받아, 테스트 항목에 대한 정보를 추출하여,테스터 및 타겟 시스템을 생성하고, 상기 임베디드 소프트웨어의 설계정보에 따라 수행경로별로 최악 응답 시간을 예측하고, 그 최악 응답 시간에 따른 정보를 상기 타겟 시스템으로 제공하는 설계정보 추출 및 테스트 시스템 생성부;상기 임베디드 소프트웨어 설계정보에 따른 테스트 항목에 대한 테스트 데이터를 생성하여 상기 타겟 시스템으로 전송함과 아울러 상기 타겟 시스템으로부터 테스트 수행결과를 수신받는 테스터;상기 테스터로부터 상기 테스트 데이터를 수신받아 SUT(SYSTEM UNDER TEST)를 수행하고, 상기 SUT 수행 결과와 상기 SUT 수행시의 최악 응답 시간을 검출하여 상기 테스트 수행결과로서 상기 테스터로 전송하는 타겟 시스템;으로 구성됨을 특징으로 하는 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 장치. | - |
| dc.identifier.iprsType | 특허 | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 금대현 | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | 이성훈 | - |
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