Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 홍재성 | - |
dc.contributor.author | 전상서 | - |
dc.date.accessioned | 2020-08-20T09:06:42Z | - |
dc.date.available | 2020-08-20T09:06:42Z | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.11750/12322 | - |
dc.description.abstract | 본 출원은 엑스선 장치의 캘리브레이션 방법 및 이를 위한 캘리브레이션 장치에 관한 것으로서, 본 발명의 일 실시예에 의한 엑스선 장치의 캘리브레이션 방법은, 엑스선 촬영장치에 부착된 카메라 마커(CM: Camera Marker)를 기준으로 하는 팬텀(Phantom)의 CM 기준 3차원 팬텀 좌표(CMρ3D)와, 상기 엑스선 촬영장치로 촬영한 상기 팬텀의 2차원 팬텀 엑스선 영상에 포함된 상기 팬텀의 2차원 팬텀 좌표(XIρ2D)를 비교하여, 상기 엑스선 촬영장치의 투영 변환 파라미터(XICMT)를 산출하는 투영 변환 파라미터 산출 단계; 및 상기 투영 변환 파라미터(XICMT)를 상기 엑스선 촬영장치의 기준좌표계(c)를 이용하여 내부 파라미터(XICT)와 외부 파라미터(CCMT)로 분해하고, 상기 내부 파라미터는 상기 엑스선 촬영장치의 이미징 파라미터, 상기 외부 파라미터는 상기 엑스선 촬영장치의 핸드-아이(Hand-eye) 변환 파라미터로 설정하는 파라미터 분해단계를 포함할 수 있다. | - |
dc.title | 엑스선 장치의 캘리브레이션 방법 및 이를 위한 캘리브레이션 장치 | - |
dc.title.alternative | CALIBRATION METHOD OF X-RAY APPARATUS AND CALIBRATION APPARATUS FOR THE SAME | - |
dc.type | Patent | - |
dc.publisher.country | KO | - |
dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2018-0047713 | - |
dc.date.application | 2018-04-25 | - |
dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2082272 | - |
dc.date.registration | 2020-02-21 | - |
dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
dc.type.iprs | 특허 | - |
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