본 발명은 카메라 및 보조 컨베이어를 이용한 객체 정밀 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 입구에 순차로 유입되는 N개의 객체를 이송하고 출구에 도달한 객체를 그대로 전진시키거나 측방을 향하여 낙하 이동시키기 위한 개폐판을 포함한 메인 컨베이어, 상기 메인 컨베이어의 일측에 설치되며, 상기 객체의 상면을 검사하는 카메라를 장착하여 지지하고 상기 카메라의 위치를 조절하는 카메라 지그, 상기 개폐판에 의해 낙하된 N개의 객체를 순차로 유입받아 상기 메인 컨베이어의 입구로 다시 하나씩 궤환 이송하는 보조 컨베이어, 및 상기 메인 컨베이어, 보조 컨베이어 및 카메라 지그를 제어하고, 상기 입구에 유입된 N개의 객체에 대해 객체의 상면 일부인 제1 영역을 1차 검사하도록 상기 카메라의 위치를 제1 위치로 1차 조정하고, 상기 1차 검사 이후 상기 보조 컨베이어를 통해 궤환 이송된 N개의 객체에 대해 제2 영역을 2차 검사하도록 상기 카메라의 위치를 제2 위치로 2차 조정하는 제어부를 포함하는 객체 정밀 검사 시스템을 제공한다. 이에 따르면, 위치 조정이 가능한 한 대의 카메라와 추가적인 보조 컨베이어를 활용하여 객체의 상면을 적어도 2회 분할 검사함으로써, 한 대의 카메라 만으로 객체의 불량 검사를 정밀하고 효율적으로 수행할 수 있고 카메라의 추가 도입 비용을 절감할 수 있다.
