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본 발명은, a) 전극의 X-선 회절 패턴(X-ray diffraction pattern)을 측정하는 단계; b) 상기 패턴에 대해 데이터 프로세싱하여 상기 전극 내 전극 활물질의 피크 반치전폭 (full width at half maximum, FWHM) 값을 구하는 단계; 및 c) 계산식 1에 따라 상기 전극 활물질의 깨짐율을 계산하는 단계를 포함하는, 이차전지용 전극 활물질의 깨짐율 분석방법을 제공한다.
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