본 발명은 미세객체 내 2개 이상의 플라즈모닉 입자로 된 프로브를 배치하여 편광에 따라 각각의 프로브의 밝기 변화를 분석함으로써 미세객체의 병진 및 회전 운동을 연구할 수 있는 기하학적 구조 관찰을 위한 암시야 초고분해능 현미경에 관한 것으로, 회절한계 내에 적어도 2개 이상 위치하고, 편광된 빛에 각도 의존성을 가지며, 플라즈모닉 입자로 구성된 프로브; 및 광 경로 내에 위치하여 회전가능한 편광판;을 포함하고, 상기 프로브의 산란신호로부터 획득한 이미지 데이터의 국지화(localization) 및 재구성(reconstruction) 과정을 통해 단일 입자의 위치 및 방향성이 관찰된다.
