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소재 물성 자동 측정 방법, 장치 및 컴퓨터-판독가능 기록매체
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dc.contributor.author 백주영 -
dc.contributor.author 김동환 -
dc.contributor.author 김정민 -
dc.date.accessioned 2025-05-01T02:10:37Z -
dc.date.available 2025-05-01T02:10:37Z -
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/20.500.11750/58354 -
dc.description.abstract 본 개시의 일 실시 예에 따른, 소재 물성 자동 측정 방법은, 대상 소재의 물성을 측정하는 측정 구조체에 포함되는 복수의 전극에 대한 초기 상태를 검사하는 단계, 기 설정된 측정 순서에 기초하여, 상기 복수의 전극 중에서 타겟 물성을 측정하기 위해 연결이 요구되는 하나 이상의 대응 전극과 상기 대상 소재를 연결하는 단계, 상기 대응 전극과 상기 대상 소재의 연결에 따른 오프셋 전압(offset voltage)을 측정하여, 상기 타겟 물성을 측정하기 위한 측정 방법을 결정하는 단계 및 기 설정된 측정 조건의 범위 안에서 상기 측정 조건을 변화시키며, 상기 결정된 측정 방법에 따라 상기 타겟 물성을 측정하는 단계를 포함 포함한다. -
dc.title 소재 물성 자동 측정 방법, 장치 및 컴퓨터-판독가능 기록매체 -
dc.title.alternative Method, Apparatus and Computer-readable Medium for Automatically Measuring Material Properties -
dc.type Patent -
dc.identifier.bibliographicCitation 백주영. 소재 물성 자동 측정 방법, 장치 및 컴퓨터-판독가능 기록매체. -
dc.publisher.country KO -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2023-0084199 -
dc.date.application 2023-06-29 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-2794433 -
dc.date.registration 2025-04-07 -
dc.contributor.assignee 재단법인대구경북과학기술원 -
dc.type.iprs 특허 -
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Kim, Dong Hwan김동환

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