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dc.contributor.author 정순문 -
dc.contributor.author 주경일 -
dc.contributor.author 김현민 -
dc.date.accessioned 2018-07-11T12:50:53Z -
dc.date.available 2018-07-11T12:50:53Z -
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/20.500.11750/8877 -
dc.description.abstract 본 발명의 실시예에 따른 2차원 구조체를 분석하는 비선형 합주파수 생성 및 4파 혼합 듀얼 모드를 이용한 현미경은, 제1 펄스파 및 제2 펄스파를 발생시켜 상기 제1 펄스파는 제1 경로로 이동시키고 상기 제2 펄스파는 제2 경로로 이동시키는 펨토초 기반의 광원; 상기 제 1 펄스파 및 상기 제2 펄스파를 겹치게 함으로써 중첩광을 발생시켜 상기 중첩광이 상기 제1 경로 및 상기 제2 경로가 합쳐지는 제3 경로를 거쳐 상기 2차원 구조체에 도달하도록 하는 이색 거울; 상기 중첩광이 상기 2차원 구조체에 도달하여 발생되는 합주파수 생성(Sum-Frequency Generation)파를 필터링한 후 상기 합주파수 생성파가 필터링된 신호를 전기적인 신호로 전환하여 이미지를 만들도록 하는 제1 광증폭 튜브를 갖는 제1 이미지 획득부; 및 상기 2차원 구조체를 사이에 두고 반대측에 배치되며, 상기 2차원 구조체를 통해 제공되는 광을 증폭시켜 4파 혼합(FWM, four wave mixing) 이미지를 얻도록 하는 제2 광증폭 튜브를 갖는 제2 이미지 획득부;를 포함할 수 있다. -
dc.title 비선형 합주파수 생성 및 4파 혼합 듀얼 모드를 이용한 현미경 -
dc.title.alternative Microscopy for using non-linear sum-frequency generation and four wave mixing dual mode -
dc.type Patent -
dc.publisher.country KO -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2015-0076513 -
dc.date.application 2015-05-29 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-1694002 -
dc.date.registration 2017-01-02 -
dc.contributor.assignee (재)대구경북과학기술원(100/100) -
dc.description.claim 2차원 구조체를 분석하는 비선형 합주파수 생성 및 4파 혼합 듀얼 모드를 이용한 현미경에 있어서,제1 펄스파 및 제2 펄스파를 발생시켜 상기 제1 펄스파는 제1 경로로 이동시키고 상기 제2 펄스파는 제2 경로로 이동시키는 펨토초 기반의 광원;상기 제 1 펄스파 및 상기 제2 펄스파를 겹치게 함으로써 중첩광을 발생시켜 상기 중첩광이 상기 제1 경로 및 상기 제2 경로가 합쳐지는 제3 경로를 거쳐 상기 2차원 구조체에 도달하도록 하는 이색 거울; 상기 중첩광이 상기 2차원 구조체에 도달하여 발생되는 합주파수 생성(SFG, Sum-Frequency Generation)파를 필터링한 후 상기 합주파수 생성파가 필터링된 신호를 전기적인 신호로 전환하여 3차원의 이미지를 만들도록 하는 제1 광증폭 튜브를 갖는 제1 이미지 획득부; 상기 2차원 구조체를 사이에 두고 반대측에 배치되며, 상기 2차원 구조체를 통해 제공되는 광을 증폭시켜 4파 혼합(FWM, four wave mixing) 이미지를 얻도록 하는 제2 광증폭 튜브를 갖는 제2 이미지 획득부; 및 3축으로 이동 가능한 3축 이동 가능 빔 스캐너;를 포함하며,상기 제1 이미지 획득부는, 상기 제3 경로 상에 구비되는 집속렌즈, 이색거울, 밴드패스필터, 대물렌즈 및 제1 광증폭 튜브를 포함하며,상기 집속렌즈와 상기 이색 거울을 중첩광이 거치면서 합주파수의 생성파가 발생되고,상기 밴드패스필터를 이용하여 발생된 합주파수 생성파를 필터링한 후 필터링된 신호를 전기적인 신호로 전환하여 상기 제1 광증폭 튜브에서 이미지를 생성하고,상기 3축 이동 가능 빔 스캐너를 이용하여 상기 2차원 구조체의 전 영역을 스캐닝함으로써 3차원 이미지를 획득하는, 비선형 합주파수 생성 및 4파 혼합 듀얼 모드를 이용한 현미경. -
dc.type.iprs 특허 -
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