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Title
Author(s)
Article
Method for evaluating interfacial resistances of thermoelectric devices using I-V measurement
Kim, Dong Hwan
;
Kim, Cham
;
Kim, Jong Tae
;
Yoon, Duck Ki
;
Kim, Hoyoung
2018-12
Kim, Dong Hwan. (2018-12). Method for evaluating interfacial resistances of thermoelectric devices using I-V measurement. doi: 10.1016/j.measurement.2018.07.030
Elsevier B.V.
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