| 2023-06 |
Jeon, Hae-Gon
;
Im, Sunghoon
;
Lee, Byeong-Uk
;
Rameau, Franc¸ois
;
Choi, Dong-Geol
;
Oh, Jean
;
Kweon, In So
;
Hebert, Martial
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, v.45, no.6, pp.6766 - 6782, 2023-06
|
751 |
| 2020-12 |
Kim, Kyeong-Won
;
Park, Seong-Jun
;
Moon, Joonoh
;
Jang, Jae Hoon
;
Ha, Heon-Young
;
Lee, Tae-Ho
;
Hong, Hyun-Uk
;
Lee, Bong Ho
;
Han, Heung Nam
;
Lee, Young-Joo
;
et al
Materials Characterization, v.170, pp.110717, 2020-12
|
617 |
| 2019-09 |
Kent, Noah
;
Streubel, Robert
;
Lambert, Charles-Henri
;
Ceballos, Alejandro
;
Je, Soong-Gun
;
Dhuey, Scott
;
Im, Mi‐Young
;
Buttner, Felix
;
Hellman, Frances
;
Salahuddin, Sayeef
;
et al
American Institute of Physics, 2019-09
|
460 |
| 2019-07 |
Han, Dong-Soo
;
Lee, Kyujoon
;
Hanke, Jan-Philipp
;
Mokrousov, Yuriy
;
Kim, Kyoung-Whan
;
Yoo, Woosuk
;
van Hees, Youri L. W.
;
Kim, Tae-Wan
;
Lavrijsen, Reinoud
;
You, Chun-Yeol
;
et al
Nature Materials, v.18, no.7, pp.703 - 708, 2019-07
|
499 |
| 2021-08 |
Talantsev, Artem
;
Elzwawy, Amir
;
Kim, Sung-Joon
;
Kim, CheolGi
Applied Surface Science, v.558, 2021-08
|
305 |
| 2019-03 |
Omari, Khalid A.
;
Broomhall, Thomas J.
;
Dawidek, Richard W. S.
;
Allwood, Dan A.
;
Bradley, Ruth C.
;
Wood, Jonathan M.
;
Fry, Paul W.
;
Rosamond, Mark C.
;
Linfield, Edmund H.
;
Im, Mi‐Young
;
et al
Wiley-VCH Verlag, 2019-03
|
446 |
| 2021-03 |
Ha, Jae-Hyun
;
Kim, Hyung-Wook
;
Jo, Young-Sik
;
Kim, Seog-Whan
;
Hong, Jung-Il
Applied Materials Today, v.22, pp.100984, 2021-03
|
430 |