비파괴 결함 검출방법
- Title
- 비파괴 결함 검출방법
- Alternative Title
- Method for non-destructive defect detection
- Author(s)
- 이현준
- Country
- KO
- Application Date
- 2019-05-29
- Application No.
- 10-2019-0063269
- Registration Date
- 2020-10-21
- Publication No.
- 10-2170357
- Assignee
- (재)대구경북과학기술원(100/100)
- Abstract
- 본 발명은 (a) n 종의 에너지를 순차적으로 피검체에 인가하여 각 에너지에 대한 피검체의 방출 파장 데이터를 수득하는 단계(단, n은 자연수임); (b) 상기 방출 파장 데이터를 이용하여 상기 피검체의 검출 이미지를 구성하는 단계; 및 (c) 상기 피검체의 검출 이미지를 분석하여 결함의 존부를 판단하는 단계; 를 포함하는 비파괴 결함 검출방법에 대한 것이다.
- Related Researcher
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Lee, Hyeon-Jun
- Research Interests 산화물반도체; Oxide semicondcutor; IGZO; memristor; 멤리스터; 차세대메모리; next-generation memory; 뇌모사; neuromorphic; 반도체 소자; Semiconductor device; 소자 수명 평가; device degradation; 소자 결함 분석; device fatigue; 반도체 열분석; Semiconductor thermal analysis; 미세 발열 측정; thermal measurement; 인공지능 소자; AI device; 인지연산 소자 및 시스템; recognition system; transistor analysis & design; 트랜지스터 분석 및 디자인; 트랜지스터 제작 및 측정; transistor fabrication and measurement
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- Appears in Collections:
- Division of Nanotechnology 3. Patents
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