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Division of Nanotechnology
3. Patents
비파괴 결함 검출방법
이현준
Division of Nanotechnology
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Title
비파괴 결함 검출방법
Alternative Title
Method for non-destructive defect detection
Country
KO
Application Date
2019-05-29
Application No.
10-2019-0063269
Registration Date
2020-10-21
Publication No.
10-2170357
Assignee
(재)대구경북과학기술원(100/100)
URI
http://hdl.handle.net/20.500.11750/13060
10-2019-0063269
Abstract
본 발명은 (a) n 종의 에너지를 순차적으로 피검체에 인가하여 각 에너지에 대한 피검체의 방출 파장 데이터를 수득하는 단계(단, n은 자연수임); (b) 상기 방출 파장 데이터를 이용하여 상기 피검체의 검출 이미지를 구성하는 단계; 및 (c) 상기 피검체의 검출 이미지를 분석하여 결함의 존부를 판단하는 단계; 를 포함하는 비파괴 결함 검출방법에 대한 것이다.
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이현준
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