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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이종찬 | - |
| dc.contributor.author | 정세주 | - |
| dc.contributor.author | 김재용 | - |
| dc.contributor.author | 고동빈 | - |
| dc.date.accessioned | 2025-11-01T02:10:22Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-01T02:10:22Z | - |
| dc.identifier.uri | https://scholar.dgist.ac.kr/handle/20.500.11750/59138 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 STED 현미경 이미지 처리 방법 및 STED 현미경 시스템을 제공하며, 측정 대상에 여기 레이저 빔 및 제1 STED 레이저 빔을 조사하여 얻은 제1 메인 이미지와, 상기 측정 대상에 상기 제1 STED 레이저 빔만을 조사하여 얻은 제1 보조 이미지를 이용하여 제1 STED 이미지를 획득하는 단계, 상기 측정 대상에 상기 여기 레이저 빔 및 상기 제1 STED 레이저 빔과 세기가 다른 제2 STED 레이저 빔을 조사하여 얻은 제2 메인 이미지와, 상기 측정 대상에 제2 STED 레이저 빔만을 조사하여 얻은 제2 보조 이미지를 이용하여 제2 STED 이미지를 획득하는 단계 및 상기 제1 STED 이미지 및 상기 제2 STED 이미지를 이용하여 배경잡음을 제거한 최종 이미지를 획득하는 단계를 포함할 수 있다. | - |
| dc.title | STED 현미경 이미지 처리 방법 및 STED 현미경 시스템 | - |
| dc.title.alternative | STED Microscope Image Processing Method and STED Microscope System | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2023-0138409 | - |
| dc.date.application | 2023-10-17 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2865674 | - |
| dc.date.registration | 2025-09-24 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
