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다곡률 패턴 마커의 패턴 정합 방법
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 강복구 | - |
| dc.contributor.author | 이현기 | - |
| dc.date.accessioned | 2026-09-01T02:10:28Z | - |
| dc.date.available | 2026-09-01T02:10:28Z | - |
| dc.identifier.uri | https://scholar.dgist.ac.kr/handle/20.500.11750/60705 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명의 일 실시예는, 촬영 장치로부터 패턴 마커가 촬영된 복수 개의 이미지들을 제공받는 단계, 복수 개의 이미지들로부터 각각 패턴 마커의 패턴부를 검출하는 단계, 검출된 패턴부들을 서로 정합하는 단계 및 정합된 패턴부로부터 패턴 마커의 좌표계를 생성하는 단계를 포함하고, 패턴부를 검출하는 단계는, 패턴부로부터 제1 정보를 나타내는 기준 시퀀스부 및 제1 정보와 다른 제2 정보를 나타내는 고유 시퀀스부를 검출하고, 패턴의 마커 좌표계를 생성하는 단계는, 기준 시퀀스부를 이용하여 패턴의 마커 좌표계를 생성하는 패턴 정합 방법을 제공한다. | - |
| dc.title | 다곡률 패턴 마커의 패턴 정합 방법 | - |
| dc.title.alternative | Pattern adjustment methods of multi-curvature pattern marker | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2023-0058580 | - |
| dc.date.application | 2023-05-04 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-3011710 | - |
| dc.date.registration | 2026-08-26 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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