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임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 방법 및 그 장치

Title
임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 방법 및 그 장치
Translated Title
METHOD AND APPARATUS OF TESTING WORST CASE RESPONSE TIME FOR EMBEDDED SOFTWARE
Inventors
박광민금대현이성훈
DGIST Inventors
금대현이성훈
Country
KO
Application Date
2009-11-30
Application No.
10-2009-0117363
Registration Date
2011-02-24
Registration No.
10-1019167
Assignee
(재)대구경북과학기술원(100/100)
URI
http://hdl.handle.net/20.500.11750/8007
https://doi.org/10.8080/1020090117363 [KIPRIS]
Abstract
본 발명에 따르는 임베디드 소프트웨어의 최악 응답 시간 테스트 자동화 장치는, 임베디드 소프트웨어의 설계정보를 제공받아, 테스트 항목에 대한 정보를 추출하여, 테스터 및 타겟 시스템을 생성하고, 상기 임베디드 소프트웨어의 설계정보에 따라 수행경로별로 최악 응답 시간을 예측하고, 그 최악 응답 시간에 따른 정보를 상기 타겟 시스템으로 제공하는 설계정보 추출 및 테스트 시스템 생성부; 상기 임베디드 소프트웨어 설계정보에 따른 테스트 항목에 대한 테스트 데이터를 생성하여 상기 타겟 시스템으로 전송함과 아울러 상기 타겟 시스템으로부터 테스트 수행결과를 수신받는 테스터; 상기 테스터로부터 상기 테스트 데이터를 수신받아 SUT(SYSTEM UNDER TEST)를 수행하고, 상기 SUT 수행 결과와 상기 SUT 수행시의 최악 응답 시간을 검출하여 상기 테스트 수행결과로서 상기 테스터로 전송하는 타겟 시스템;으로 구성됨을 특징으로 한다.
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Convergence Research Center for Future Automotive Technology3. Patents


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