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dc.contributor.author 이성훈 -
dc.contributor.author 홍재승 -
dc.contributor.author 금대현 -
dc.date.accessioned 2018-07-11T12:30:30Z -
dc.date.available 2018-07-11T12:30:30Z -
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/20.500.11750/8335 -
dc.description.abstract 본 발명은 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 타겟 시스템에 포함된 MCU에 대한 테스트 자동화 시스템에 있어서, 표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 소프트웨어 설계 정보 추출부, 추출된 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하고, 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 TTCN-3 테스트 케이스로부터 획득한 예상 출력 값과 비교하여 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 TTCN-3 테스트 시스템, 그리고 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템 사이에 연결되는 통신 인터페이스부를 포함한다. 이와 같이 본 발명에 따르면 내장형 시스템을 개발하는 단계에서 실제 시스템에 가깝게 테스트 환경을 구성하여 전체 시스템의 기능을 사전에 효과적으로 테스트 할 수 있다. 또한 테스트하기 위한 타켓 시스템은 실제 하드웨어로 구성되어 테스트 결과에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있으며, 실제 내장형 시스템과 같이 다수의 MCU를 유기적으로 테스트 할 수 있을 뿐 아니라 시스템 내부에서 사용되는 네트워크를 효과적으로 테스트 할 수 있다. -
dc.title 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법 -
dc.title.alternative AUTOMATIC TEST SYSTEM FOR MICRO CONTROLLER UNIT AND METHOD THEREOF -
dc.type Patent -
dc.publisher.country KO -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2010-0109944 -
dc.date.application 2010-11-05 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-1185542 -
dc.date.registration 2012-09-18 -
dc.contributor.assignee (재)대구경북과학기술원(100/100) -
dc.description.claim 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 대한 테스트 자동화 시스템에 있어서, 표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 소프트웨어 설계 정보 추출부, 추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하고, 상기 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 상기 TTCN-3 테스트 케이스로부터 획득한 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 TTCN-3 테스트 시스템, 그리고 상기 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템 사이에 연결되는 통신 인터페이스부를 포함하며,상기 복수의 MCU는 서로 네트워크를 형성하며 내부 통신을 수행하며, 상기 복수의 MCU 중에서 적어도 하나의 MCU는 상기 TTCN-3 테스트 시스템으로부터 상기 통신 인터페이스부를 통하여 네트워크의 종류와 패킷에 대한 데이터를 전달받아, 수신된 데이터에 대응하는 패킷을 내부 네트워크로 연결되어 있는 다른 MCU들로 전달하여 내부 네트워크 상태를 테스트하는 MCU 테스트 자동화 시스템. -
dc.type.iprs 특허 -
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Division of Automotive Technology 3. Patents

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