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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 박광민 | - |
| dc.contributor.author | 금대현 | - |
| dc.contributor.author | 이성훈 | - |
| dc.date.accessioned | 2018-07-11T12:52:08Z | - |
| dc.date.available | 2018-07-11T12:52:08Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.11750/8911 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 TTCN-3를 기반으로 한 내장형 소프트웨어 테스트 자동화 시스템에 관한 것이다. 상기 시스템은, 상기 테스트 케이스 명세 및 상기 내장형 소프트웨어 명세를 파싱하고 특정 정보를 추출하고, 추출된 정보들을 이용하여 테스트 데이터, 테스트 ID/템플릿, 타겟 시스템 시뮬레이션 모듈, 테스트ID/SUT 매핑 정보들을 생성하는 테스트 시스템 생성부; 상기 테스트 시스템으로부터 입력된 테스트 데이터 및 테스트 ID/템플릿을 타겟 시스템으로 송신하고 타겟 시스템으로부터 수행된 결과값을 수신하여 테스트 결과의 합격 여부를 결정하는 테스터; 상기 테스터로부터 입력된 테스트 데이터 및 테스트 ID/템플릿을 이용하여 테스트 대상 소프트웨어를 수행하고 그 결과값을 상기 테스터로 송신하는 타겟 시스템;을 구비하고, 상기 테스트 케이스 명세 및 상기 내장형 소프트웨어 명세는 XML 형식으로 작성되며, 테스트 시스템 생성부, 테스터, 타겟 시스템은 TTCN-3을 기반으로 동작하는 것이 바람직하다. | - |
| dc.title | 내장형 소프트웨어의 테스트 자동화 장치 및 그 방법 | - |
| dc.title.alternative | Automated testing method and system for embedded software | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 박광민. 내장형 소프트웨어의 테스트 자동화 장치 및 그 방법. | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2009-0117359 | - |
| dc.date.application | 2009-11-30 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1019166 | - |
| dc.date.registration | 2011-02-24 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.description.claim | 외부로부터 입력된 테스트 케이스 명세 및 내장형 소프트웨어 명세를 이용하여 테스트 대상 소프트웨어를 자동으로 테스트할 수 있는 내장형 소프트웨어 자동화 시스템에 있어서, 상기 테스트 케이스 명세 및 상기 내장형 소프트웨어 명세를 파싱하고 특정 정보를 추출하고, 추출된 정보들을 이용하여 테스트 데이터, 테스트 ID/템플릿, 타겟 시스템 시뮬레이션 모듈, 테스트ID/SUT 매핑 정보들을 생성하는 테스트 시스템 생성부; 상기 테스트 시스템으로부터 입력된 테스트 데이터 및 테스트 ID/템플릿을 타겟 시스템으로 송신하고 타겟 시스템으로부터 수행된 결과값을 수신하여 테스트 결과의 합격 여부를 결정하는 테스터; 상기 테스터로부터 입력된 테스트 데이터 및 테스트 ID/템플릿을 이용하여 테스트 대상 소프트웨어를 수행하고 그 결과값을 상기 테스터로 송신하는 타겟 시스템;을 구비하는 내장형 소프트웨어 테스트 자동화 시스템. | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
