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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 이현준 | - |
| dc.contributor.author | 임성준 | - |
| dc.contributor.author | 노희연 | - |
| dc.contributor.author | 김준우 | - |
| dc.contributor.author | 김준서 | - |
| dc.contributor.author | 최병대 | - |
| dc.date.accessioned | 2018-07-11T12:53:47Z | - |
| dc.date.available | 2018-07-11T12:53:47Z | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.11750/8957 | - |
| dc.description.abstract | 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법을 제공한다. 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법은 손상된 트랜지스터 소자가 내재된 전자 장치를 준비하는 단계 및 이때의 전자 장치 중 상기 손상된 트랜지스터 소자에 레이저를 조사하는 단계를 포함하고, 이때의 레이저 조사에 따른 열처리를 통하여 상기 손상된 트랜지스터 소자의 특성을 복원하는 것을 특징으로 한다. | - |
| dc.title | 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법 | - |
| dc.title.alternative | Repairing method of characteristics of transistors | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 이현준. 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법. | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2017-0054241 | - |
| dc.date.application | 2017-04-27 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1846477 | - |
| dc.date.registration | 2018-04-02 | - |
| dc.contributor.assignee | (재)대구경북과학기술원(100/100) | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
