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dc.contributor.author이현준ko
dc.contributor.author임성준ko
dc.contributor.author노희연ko
dc.contributor.author김준우ko
dc.contributor.author김준서ko
dc.contributor.author최병대ko
dc.date.accessioned2018-07-11T12:53:47Z-
dc.date.available2018-07-11T12:53:47Z-
dc.date.issued2017-04-27-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.11750/8957-
dc.description.abstract디스플레이 제품의 비정상 구동하는 소자의 특성 복원 기술 제안 디스플레이 구동부 및 회로부에 비정상적인 특성을 나타내는 소자나 ESD(정전기)등으로 인한 파괴된 소자를 레이저를 활용한 국소 열처리 진행으로 특성을 복원하는 방안 제안-
dc.title국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법-
dc.title.alternativeRepairing method of characteristics of transistors-
dc.typePatent-
dc.type.rimsPAT-
dc.contributor.localauthor이현준-
dc.contributor.localauthor임성준-
dc.contributor.localauthor노희연-
dc.contributor.localauthor김준우-
dc.contributor.localauthor김준서-
dc.contributor.localauthor최병대-
dc.publisher.countryKO-
dc.identifier.patentApplicationNumber10-2017-0054241-
dc.date.application2017-04-27-
dc.identifier.patentRegistrationNumber10-1846477-
dc.date.registration2018-04-02-
dc.contributor.assignee(재)대구경북과학기술원(100/100)-
dc.identifier.iprsType특허-


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