국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법
- Title
- 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법
- Alternative Title
- Repairing method of characteristics of transistors
- Country
- KO
- Application Date
- 2017-04-27
- Application No.
- 10-2017-0054241
- Registration Date
- 2018-04-02
- Publication No.
- 10-1846477
- Assignee
- (재)대구경북과학기술원(100/100)
- Abstract
- 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법을 제공한다. 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법은 손상된 트랜지스터 소자가 내재된 전자 장치를 준비하는 단계 및 이때의 전자 장치 중 상기 손상된 트랜지스터 소자에 레이저를 조사하는 단계를 포함하고, 이때의 레이저 조사에 따른 열처리를 통하여 상기 손상된 트랜지스터 소자의 특성을 복원하는 것을 특징으로 한다.
- Related Researcher
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Lee, Hyeon-Jun 나노기술연구부
- Research Interests 산화물반도체;IGZO;memristor;멤리스터;저항메모리;resistance memory;neuromorphic;device;degradation;hot electron;display device;gate driver;oxide semiconductor
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- Appears in Collections:
- Division of Electronics & Information System 3. Patents
- Division of Nanotechnology 3. Patents
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