Cited 0 time in webofscience Cited 0 time in scopus

국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법

Title
국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법
Translated Title
Repairing method of characteristics of transistors
Inventors
이현준임성준노희연김준우김준서최병대
DGIST Inventors
이현준임성준김준서최병대
Country
KO
Application Date
2017-04-27
Application No.
10-2017-0054241
Registration Date
2018-04-02
Registration No.
10-1846477
Assignee
(재)대구경북과학기술원(100/100)
URI
http://hdl.handle.net/20.500.11750/8957
https://doi.org/10.8080/1020170054241 [KIPRIS]
Abstract
국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법을 제공한다. 국소 열처리를 통한 트랜지스터 특성 복원방법은 손상된 트랜지스터 소자가 내재된 전자 장치를 준비하는 단계 및 이때의 전자 장치 중 상기 손상된 트랜지스터 소자에 레이저를 조사하는 단계를 포함하고, 이때의 레이저 조사에 따른 열처리를 통하여 상기 손상된 트랜지스터 소자의 특성을 복원하는 것을 특징으로 한다.
Related Researcher
Files:
There are no files associated with this item.
Collection:
Division of Nanotechnology3. Patents
Division of Electronics & Information System3. Patents


qrcode mendeley

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

BROWSE