Department of Electrical Engineering and Computer Science
Advanced Electronic Devices Research Group(AEDRG) - Jang Lab.
3. Patents
고통 감지 장치 및 고통 감지 방법
- Title
- 고통 감지 장치 및 고통 감지 방법
- Alternative Title
- APPARATUS AND METHOD FOR SENSING PAIN
- Country
- KO
- Application Date
- 2017-09-08
- Application No.
- 10-2017-0115134
- Registration Date
- 2019-02-11
- Publication No.
- 10-1948749
- Assignee
- (재)대구경북과학기술원(100/100)
- Abstract
- 본 발명의 일 실시예에 따르면, 압력 측정부 및 열 측정부를 포함하는 복합 센서부; 상기 복합 센서부로부터 획득된 전기 신호로부터 고통 데이터를 생성하는 제어부; 및 상기 고통 데이터를 출력하는 출력부를 포함하며, 상기 제어부는, 상기 압력 측정부로부터 획득된 압력 신호 및 상기 열 측정부로부터 획득된 열 신호 각각으로부터 상기 고통 데이터 생성 여부를 판단하는 비교 및 판단부; 및 상기 고통 데이터를 생성하는 고통 데이터 생성부를 포함하는, 고통 감지 장치를 제공한다.
- Related Researcher
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Jang, Jae Eun 전기전자컴퓨터공학과
- Research Interests Nanoelectroinc device; 생체 신호 센싱 시스템 및 생체 모방 디바이스; 나노 통신 디바이스
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