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Patent
다중물질 표면 탄성파 계측장치
  • 2021-06-28
  • 김회준. 다중물질 표면 탄성파 계측장치.
  • View : 272
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Patent
입자 측정장치 및 이의 제조방법
  • 2021-06-16
  • View : 276
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Patent
MATERIAL MEASUREMENT DEVICE, MATERIAL MEASUREMENT SYSTEM, AND MATERIAL MEASUREMENT METHOD
  • 2021-11-26
  • 장일류. MATERIAL MEASUREMENT DEVICE, MATERIAL MEASUREMENT SYSTEM, AND MATERIAL MEASUREMENT METHOD.
  • View : 313
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Patent
PARTICLE MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
  • 2022-05-02
  • 장일류. PARTICLE MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME.
  • View : 276
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Patent
반도체 제조공정에서 발생하는 입자 측정을 위한 입자 저감 시스템 및 그 측정 방법(PARTICLE ABATEMENT SYSTEM FOR PARTICLE MEASUREMENT FROM SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS AND MEASUREMENT METHOD THEREFOR)
  • 2024-06-18
  • View : 102
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Patent
물질 계측 센서, 물질 계측 시스템 및 물질 계측 방법
  • 2021-03-05
  • View : 226
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Patent
물질 계측 센서, 물질 계측 시스템 및 물질 계측 방법
  • 2023-09-05
  • View : 61
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Patent
입자 측정장치 및 이의 제조방법
  • 2023-08-30
  • View : 47
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Patent
농도 측정 장치 및 그 시스템과 농도 측정 방법.
  • 2019-10-23
  • View : 405
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