3. Patents14

  Department of Robotics and Mechatronics Engineering Nano Materials and Devices Lab

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반도체 제조공정에서 발생하는 입자 측정을 위한 입자 저감 시스템 및 그 측정 방법(PARTICLE ABATEMENT SYSTEM FOR PARTICLE MEASUREMENT FROM SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS AND MEASUREMENT METHOD THEREFOR)
  • 2024-06-18
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Patent
WARMTH MEASUREMENT DEVICE, WARMTH MEASUREMENT SYSTEM, AND WARMTH MEASUREMENT METHOD THEREBY
  • 2024-06-04
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Patent
MATERIAL MEASUREMENT DEVICE, MATERIAL MEASUREMENT SYSTEM, AND MATERIAL MEASUREMENT METHOD
  • 2021-11-26
  • 장일류. MATERIAL MEASUREMENT DEVICE, MATERIAL MEASUREMENT SYSTEM, AND MATERIAL MEASUREMENT METHOD.
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STRAIN MEASURING SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
  • 2021-09-17
  • 김회준. STRAIN MEASURING SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR.
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PARTICLE MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
  • 2022-05-02
  • 장일류. PARTICLE MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME.
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Patent
3D 프린팅 메타 구조체 기반의 웨어러블 디바이스
  • 2022-05-02
  • 김항겸. 3D 프린팅 메타 구조체 기반의 웨어러블 디바이스.
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Patent
변형률 측정 센서 및 이의 제조방법
  • 2021-07-05
  • 김회준. 변형률 측정 센서 및 이의 제조방법.
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Patent
압저항 타입의 압력 측정 센서 및 그것의 제조 방법
  • 2022-04-04
  • 김회준. 압저항 타입의 압력 측정 센서 및 그것의 제조 방법.
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다중물질 표면 탄성파 계측장치
  • 2021-06-28
  • 김회준. 다중물질 표면 탄성파 계측장치.
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Patent
물질 계측 센서, 물질 계측 시스템 및 물질 계측 방법
  • 2021-03-05
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Patent
입자 측정장치 및 이의 제조방법
  • 2021-06-16
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Patent
농도 측정 장치 및 그 시스템과 농도 측정 방법.
  • 2019-10-23
  • 김회준. 농도 측정 장치 및 그 시스템과 농도 측정 방법.
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3축 자기장 측정 장치
  • 2019-10-23
  • 정순인. 3축 자기장 측정 장치.
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유체 특성 측정 장치
  • 2019-10-18
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